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1、​​冷热冲击试验是用于测试电子产品、元器件及复合材料等产品，测试产品在瞬间下经设定值下的高温及低温在连续环境下所能承受的程度，在短时间内，测试其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。冷热冲击试验箱也常被称之为温度冲击试验箱、高低温冲击试验箱。目前冷热冲击试验箱已被广泛运用于各行各业，包括电子电工、军工器械、通讯电子及汽车电子等，同时还包括高校科研项目等，主要提供于产品及零部件的冷热冲击试验。

2、  电子元器件冷热冲击试验的工作原理主要是通过箱内高温与低温之间的快速转换，达到一种温冲的表现，从而考验产品或材料在这种环境下的变化情况。武汉金测冷热冲击箱以上就是小编对“电子元器件冷热冲击试验的工作原理”的相关解答，如需了解更多详情，欢迎来电咨询，谢谢。

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电子产品温度冲击试验的实施要求。冷热冲试验箱要求。两个试验箱、或一个双室试验箱，应具备以下能力：。试件转换后5min内箱内的试验条件能重新达到稳定。配备有能监测试件周围空气层试验条件的辅助仪表，可能还需要快速分离式热电偶来监测试件随周围温度变化的情况。风速控制：试件附近风速一般不应超过1.7m/s。高、低温箱的容积：应保证在放入试件后不超过试验温度保持时间的10%就能使箱温度恢复到规定的条件。

一般信息：使用的设备和仪器、试验程序、试件内部关键部件和组件必要时，持续时间、试件技术状态。应力施加方式、试件安装要求包括安装准备、方向、连接方式等。记录实际试验过程与预先规定的试验程序或试验参数之间的偏差，以及发生的各种异常情况。

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